Czechia – Scanning electron microscopes – UPOL/PřF/KEF - Systém FIB-SEM včetně analytických technik a nanoindentace

Scope of works

Předmětem Veřejné zakázky je dodávka mikroskopického systému FIB-SEM (skenovací elektronový mikroskop s iontovým svazkem) s možností depozice nejméně tří materiálů (platina, uhlík, wolfram) a s navazujícími analytickými technikami pro detailní analýzu studovaných materiálů (4DSTEM, EBSD, EDS, Nanoindentace, TOF-SIMS). Minimální požadavky na předmět Veřejné zakázky jsou vymezeny technickými, obchodními nebo jinými smluvními podmínkami, které jsou přílohou Zadávací dokumentace. A to zejména Technickou specifikací a závazným Zněním smlouvy.

Type

Invitation to bid / open tender

Tender

Sector

Laboratory & Scientific Equipment

Procedure

open

Classification

38511100, 38512100, 38433000, 38433100

Original notice

Sign in to open the original notice

Source provenance (1)

Every portal notice that contributed to this record, with the values each one published. Where portals disagree, the originating notice is the published record.

Key dates

1. Published at source02 Sept 2026
2. Submission deadline07 Oct 2026